microtrak™3 TGS 测厚仪

microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器，可以操作无论是作为一个独立的解决方案，或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.00025秒钟内通过一个数字输出引脚提供指示。由于激光位移传感器的非接触式的设计，被测物体不会变形或损坏以及目标运动不会挫伤。

产品描述

microtrak^TM3 TGS是一种非接触式激光测厚系统，可以测量到40毫米厚度0.06% FSR线性，理想的测量范围广泛的材料类型，如玻璃，塑料，金属，复合材料和纸制品。microtrak的^TM3 TGS是功能，简化了应用程序的内部厚度通过高速采样和数字厚度计算自动厚度控制的理想工具，减少错误经常遇到的传统的求和方法。此外，可以测量3 TGS microtrak高频运动因为没有部分传感器需要保持在与物体接触，使它们适合用于高速生产线上的应用。
 

• 概述
• 参数
• 产品规格
• 产品尺寸
• 型号

microtrak™3 TGS 测厚仪

microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器，可以操作无论是作为一个独立的解决方案，或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.00025秒钟内通过一个数字输出引脚提供指示。由于激光位移传感器的非接触式的设计，被测物体不会变形或损坏以及目标运动不会挫伤。

产品描述

microtrak^TM3 TGS是一种非接触式激光测厚系统，可以测量到40毫米厚度0.06% FSR线性，理想的测量范围广泛的材料类型，如玻璃，塑料，金属，复合材料和纸制品。microtrak的^TM3 TGS是功能，简化了应用程序的内部厚度通过高速采样和数字厚度计算自动厚度控制的理想工具，减少错误经常遇到的传统的求和方法。此外，可以测量3 TGS microtrak高频运动因为没有部分传感器需要保持在与物体接触，使它们适合用于高速生产线上的应用。

产品特点

mictrotrak的

• 概述
• 参数
• 产品规格
• 产品尺寸
• 型号

microtrak™3 TGS 测厚仪

microtrak 3测厚仪系统结合的证明激光三角传感器的模块化控制器，可以操作无论是作为一个独立的解决方案，或与PLC / PC microtrak™3 TGS控制器可以检测出范围厚度的条件下在0.00025秒钟内通过一个数字输出引脚提供指示。由于激光位移传感器的非接触式的设计，被测物体不会变形或损坏以及目标运动不会挫伤。

产品描述

microtrak^TM3 TGS是一种非接触式激光测厚系统，可以测量到40毫米厚度0.06% FSR线性，理想的测量范围广泛的材料类型，如玻璃，塑料，金属，复合材料和纸制品。microtrak的^TM3 TGS是功能，简化了应用程序的内部厚度通过高速采样和数字厚度计算自动厚度控制的理想工具，减少错误经常遇到的传统的求和方法。此外，可以测量3 TGS microtrak高频运动因为没有部分传感器需要保持在与物体接触，使它们适合用于高速生产线上的应用。

产品特点

mictrotrak的

主要应用
 

板材厚度检测

卷起来的厚度量测

纤维水泥板台阶高度测量

其他关联产品应用

• 薄膜厚度测量
•  
• 亚纳米的距离/厚度测量电容放大器

   

• 单点激光头传感器

   

• 2维激光头传感器