基恩士发布形状测量激光显微系统

浏览量:107 更新:2019-03-15

  就在3月27日这天,显微系统以及逻辑控制系统的供应商基恩士在北京召开媒体见面会。会上指出将加强在中国市场销售「形状测量激光显微系统VK-X100/X200 系列」。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。

  高分辨率,大景深观察

  (1) 、高分辨率, 最大放大24000 倍

  (2) 、完全聚焦的清晰图像

  (3)、 符合溯源性要求

  基恩士仿佛彩色 SEM

  (1)、 16 bit 激光彩色观察

  (2)、 放置并且测量,您可以在几秒钟内进行分析

  (3)、 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

  基恩士无损轮廓和粗糙度测量

  (1)、 非接触式设计,可用于测量软质的工件

  (2) 、方便定位测量区域

  (3) 、激光光束波长比表面粗糙度测量直径小

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